Trong quá trình phát triển IC và các mạch RF, việc đo kiểm chính xác đặc tính của linh kiện ngay từ giai đoạn wafer hoặc chip là bước cực kỳ quan trọng. Quá trình này không chỉ giúp kỹ sư đánh giá hiệu năng thực tế mà còn hỗ trợ tối ưu hóa thiết kế và giảm thiểu rủi ro kỹ thuật trước khi đưa sản phẩm vào quy trình sản xuất hàng loạt.
Phép đo tham số S (S-Parameters) đóng vai trò là nền tảng trong quy trình phát triển vi mạch hiện đại. Thông qua phép đo này, kỹ sư có thể phân tích chi tiết độ suy hao tín hiệu (Insertion Loss) để xác định mức độ hao hụt năng lượng khi tín hiệu truyền qua mạch. Bên cạnh đó, các thông số về hệ số phản xạ (Return Loss) và tỷ số sóng đứng (VSWR) cũng cung cấp dữ liệu quý giá để đánh giá mức độ tương thích trở kháng cũng như hiệu quả truyền dẫn công suất. Đây là những chỉ số then chốt giúp đảm bảo chip hoạt động ổn định và chính xác trong các hệ thống viễn thông, radar hoặc thiết bị di động.
Quy trình đo kiểm chuyên sâu với giải pháp từ FormFactor và Keysight
Video demo dưới đây giới thiệu quy trình đo tham số S cho RFIC. Hệ thống đo kiểm này là sự kết hợp hoàn hảo giữa hai công nghệ hàng đầu thế giới bao gồm hệ thống Probe Station của FormFactor và máy phân tích mạng VNA từ Keysight.
Trong khi hệ thống của FormFactor đảm bảo việc tiếp xúc trên wafer đạt độ chính xác cơ học cao với nhiễu nền thấp, máy VNA của Keysight đóng vai trò cung cấp dữ liệu đo với độ nhạy và dải động tối ưu ở các tần số vô tuyến. Sự phối hợp này tạo ra một hệ thống đo kiểm hoàn chỉnh, cho phép kỹ sư xác nhận hiệu năng của chip ngay tại phòng thí nghiệm và nhanh chóng phát hiện các sai sót trong thiết kế.
ASIC tự hào là đơn vị dẫn đầu trong việc cung cấp các giải pháp đo kiểm vi mạch chuyên sâu tại Việt Nam. Chúng tôi mang đến cho khách hàng không chỉ những thiết bị phần cứng chất lượng từ các đối tác chiến lược như Keysight hay FormFactor mà còn cả dịch vụ tư vấn kỹ thuật bài bản. Đội ngũ kỹ sư giàu kinh nghiệm của ASIC luôn sẵn sàng hỗ trợ khách hàng xây dựng cấu hình hệ thống tối ưu và cung cấp dịch vụ hỗ trợ nhanh chóng để đảm bảo tiến độ nghiên cứu và sản xuất của doanh nghiệp.
Hệ thống đo kiểm RFIC thường bao gồm máy phân tích mạng vectơ làm thiết bị đo chính kết hợp với các bộ Probe Station chuyên dụng. Việc đo kiểm trực tiếp trên wafer mang lại ưu điểm vượt trội khi loại bỏ được các tác động tiêu cực từ vỏ đóng gói, giúp phản ánh trung thực hiệu suất của die chip. Giải pháp từ FormFactor đặc biệt được tin dùng nhờ độ ổn định cao và khả năng đáp ứng các phép đo ở dải tần số mmWave cực cao.
