AMS sử dụng một cách tiếp cận mới để kiểm tra đặc tuyến V/I. Giải pháp AMS tăng khả năng kiểm tra bằng cách thay đổi tần số của tín hiệu thử nghiệm để quan sát phản ứng của DUT (Thiết bị được kiểm tra) trên một dải tần số. Điều này có thể dẫn đến việc phát hiện lỗi không thể phát hiện được với các công cụ khác chỉ kiểm tra trên một tần số duy nhất
|
|